Termografie v oblasti R&D / NDT
Služby / Školení / Termografie v oblasti R&D / NDT
Termín konání: 3. 6. 2014, 13:51–13:51
Sál 2
- Co můžeme chápat pod pojmem R&D aplikace v IČ oblasti
- Rozdíl mezi mikrobolometrickými a kvantovými detektory
- Spektrální pásma, spektrální filtrace, aplikace – externí přednáška
- Vysokorychlostní aplikace
- Aplikace s vysokým teplotním rozlišením
- Současné HW a SW možnosti pro R&D aplikace – externí přednáška
- Aktivní termografie aplikovaná na strukturu materiálů a prvků – externí přednáška
- Metody externí excitace – aplikace, vhodnost pro různé materiály – externí přednáška
- Praktické ukázky zobrazení – kompozitní i metalické materiály
- Možnosti aplikace nejen ve výzkumu, ale i výrobě a kontinuální kontrole kvality
